施設利用
物質組織化学研究研究領域部会 登録設備等一覧
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吉沢・澤田研究室
登録設備等名 | 仕様 |
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絶対PL量子収率測定装置 | 浜松フォトニクス C9920-02G |
ペプチド自動合成装置 | Gyros Protein Technologies PurePepChorus |
中村・岡田研究室
登録設備等名 | 仕様 |
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マイクロウェーブ有機合成装置 | バイオタージ INITIATOR |
ICP Spectrometer | Thermo Scientific iCAP 7400 Duo |
旋光計 | Rudolph Research Analytical Autopol IV |
卓上NMR | Magritek Spinsolve 43 MHz Ultra |
高速3D細胞スキャナー | SCREENホールディングス Cell3 iMager |
福島・庄子研究室
登録設備等名 | 仕様 |
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蛍光寿命測定装置 | 浜松ホトニクス C11200 |
量子収率測定装置 | 浜松ホトニクス C9920-02 |
電気化学測定装置 | ALS/CH Instruments Electrochemical Analyzer Model 622CZ |
示差走査熱量測定計 | METTLER TOLEDO DSC 1 |
偏光顕微鏡 | ニコン ECLIPSE LV100POL |
紫外可視近赤外分光光度計 | 日本分光 V-670 |
宍戸・久保研究室
登録設備等名 | 仕様 |
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X線回折-示差走査熱量同時測定装置 | リガク製XRD-DSC |
分光エリプソメーター | 日本分光社製 ELC-300 |
山元・今岡研究室
登録設備等名 | 仕様 |
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超高感度等温滴定カロリメーター | MicroCal VP-ITC 測定温度範囲 2~80℃、セル容積 1.4 ml、 滴定量 0.1~250 μl |
極低加速原子分解能分析電子顕微鏡 | 日本電子 JEM-ARM200F Cold-FEG (40-200kV) Cs-corrector (STEM only) Dual SDD (100cm^2×2) |
絶対PL量子収率測定装置 | 浜松ホトニクス C9920-03 励起波長 375-800nm、蛍光波長 300-1100nm |
紫外可視近赤外蛍光分光測定装置 | HORIBA製 Flurolog-3-21-NIR-PHOS 励起波長範囲 200-600nm、スリット幅 励起側および発光側ともに 5nm増分 0.1nm 取込0.1秒 |
発光寿命測定装置(リン光測定オプション) | 浜松ホトニクス製 Quantauras-Tau C11367-02 |
山口・黒木研究室
登録設備等名 | 仕様 |
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動的光散乱装置 | Malvern社製 Zetasizer Nano S-90 |
紫外可視吸光光度計 | 日立製作所 UH3900D |
顕微レーザーラマン分光測定装置 | HORIBA LabRAM HR Evolution |
フーリエ変換赤外分光装置 | 日本分光 FT/IR-6200 |
北口研究室
登録設備等名 | 仕様 |
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マルチマイクロプレートリーダー | BMG Labtech CLARIOSTAR |
分子間相互作用測定装置 | フォルテバイオ Octet K2 |
ナノポアロングリード超並列DNAシーケンサー | Oxford Nanopore Technologies MinION Mk1B |
セルソーター | ソニー SH-800 |
高感度微弱発光測定装置 | マイクロテックニチオン社製 ルミカウンターNU-2600 |
西山・三浦研究室
登録設備等名 | 仕様 |
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超高速液体クロマトグラフシステム | 日本分光社製 LC-2000 plus |
紫外可視分光光度計 | 日本分光社製 V-730iRM |
フーリエ変換赤外分光光度計 | 日本分光社製 FT/IR-4600ST |
高速液体クロマトグラフシステム | 日本分光社製 EXTREMA |
蛍光分光光度計 | 日本分光社製 FP-8500 |
マルチ検出モードマイクロブレートリーダー | TECAN |
館山研究室
登録設備等名 | 仕様 |
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Linux計算サーバ | DELL 他 |
オープンファシリティセンター(旧:すずかけ台分析部門)
登録設備等名 | 仕様 |
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有機微量元素分析装置 5台 | |
超伝導核磁気共鳴装置400MHz 3台 | ブルカー・バイオスピン社 |
超伝導核磁気共鳴装置500MHz | ブルカー・バイオスピン社 |
単結晶X線回折装置 | リガク XtaLab-Synergy-DW |
二重収束型質量分析装置 | 日本電子・JMS-MS700型 |
MALDI-TOF-MS | ブルカー・ダルトニクス社製 ultrafle Xtreme-TK2 |
ESI-TOF型質量分析装置-(LC付) | ブルカー・ダルトニクス社製 micrOTOFⅡ |
ICP-質量分析装置 | パーキンエルマー社 ELAN DRC-es |
マイクロウェーブ試料前処理装置 | パーキンエルマージャパン社 XF100 |
分析走査電子顕微鏡システム | 日本電子社 JSM-6610LA |
エネルギー分散型蛍光X線分析装置 | ブルカーエイエックスエス社 S2 RANGER LET |
ナノ秒過渡吸収測定システム | 浜松ホトニクス社 |
走査型電子顕微鏡 | 日立ハイテクノロジーズ S-5500 |